電磁輻射及熱輻射掃描系統(tǒng) 隨著現(xiàn)代電子系統(tǒng)主頻的提高、集成度的增加、產(chǎn)品體積的縮小，系統(tǒng)內(nèi)部信號(hào)產(chǎn)生的電磁輻射也隨之增加，從而產(chǎn)生信號(hào)與信號(hào)間的電磁干擾。這種電磁干擾大到一定程度時(shí)會(huì)影響系統(tǒng)的穩(wěn)定性甚至導(dǎo)致功能失效。同樣，由于系統(tǒng)的電磁輻射的增加，會(huì)導(dǎo)致系統(tǒng)與系統(tǒng)間產(chǎn)生電磁干擾。這種電磁干擾大到一定程度時(shí)，會(huì)影響另一系統(tǒng)的工作穩(wěn)定性，甚至導(dǎo)致系統(tǒng)癱瘓。為此，產(chǎn)品的電磁兼容性（EMC）指標(biāo)已經(jīng)成為產(chǎn)品能否走向市場(chǎng)的關(guān)鍵。傳統(tǒng)上，要檢驗(yàn)一個(gè)產(chǎn)品是否符合EMC標(biāo)準(zhǔn)，必須要把產(chǎn)品原型拿到開闊場(chǎng)或EMC實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行測(cè)量。如果在測(cè)試中發(fā)現(xiàn)問題，就要求重新進(jìn)行設(shè)計(jì)。另外，國(guó)際上目前對(duì)電子產(chǎn)品電磁兼容的要求描述為各種不同的定義，如：VCCI，ANSI，CISPR，F(xiàn)CC或VDE 等。而這些定義通常針對(duì)整個(gè)產(chǎn)品或系統(tǒng)，而不是單個(gè)電路，電子工程師還沒有一個(gè)十分容易的辦法來(lái)確定電磁波輻射源。因此傳統(tǒng)的EMC測(cè)量只能測(cè)量產(chǎn)品的對(duì)外輻射的情況，無(wú)法測(cè)量系統(tǒng)內(nèi)部的輻射及其干擾。如果在測(cè)試中失敗，也不能知道究竟是什么原因引起的。 同時(shí)由于系統(tǒng)功能的增加和體積的縮小，使得產(chǎn)品的熱輻射問題也成為影響系統(tǒng)穩(wěn)定性的關(guān)鍵因素。 大家知道，要看一個(gè)信號(hào)的完整性問題，我們可以用示波器進(jìn)行觀測(cè)時(shí)域下的波形，也可以用頻譜分析儀觀測(cè)一個(gè)點(diǎn)的電磁輻射的頻率與幅度，但是我們還沒有這樣的設(shè)備，能看到整個(gè)空間的或一個(gè)信號(hào)的整個(gè)路徑上的電磁輻射的形狀、方向和幅度，也無(wú)法看到整個(gè)空間的熱輻射。如果我們有這種能觀測(cè)整個(gè)空間的電磁輻射和熱輻射的設(shè)備，我們就能準(zhǔn)確地定位導(dǎo)致系統(tǒng)不穩(wěn)定的電磁輻射源和熱輻射源了。 EMC Scanner是針對(duì)這個(gè)想法而設(shè)計(jì)的產(chǎn)品。它能使電磁場(chǎng)和熱輻射場(chǎng)“可視化”，利用EMC-Scanner（電磁場(chǎng)輻射和熱輻射掃描儀），您可以很容易地“看到”高頻電磁場(chǎng)了。該系統(tǒng)是一個(gè)特別的專門用來(lái)測(cè)量電磁場(chǎng)輻射源及熱輻射源的位置和強(qiáng)度的精密儀器，并直達(dá)元件級(jí)，測(cè)量結(jié)果以三維或二維彩色圖形直觀顯示。它可對(duì)單個(gè)電子元器件、PCB板、電纜線及整機(jī)系統(tǒng)進(jìn)行電磁場(chǎng)輻射及熱輻射的精確測(cè)量。全套測(cè)量系統(tǒng)包括一個(gè)可三維運(yùn)動(dòng)的機(jī)械操作臺(tái)、帶近場(chǎng)探頭的頻譜分析儀、GPIB卡和用于通訊和數(shù)據(jù)處理及控制分析的軟件等。 EMC Scanner配備的軟件系統(tǒng)操作簡(jiǎn)單，顯示直觀。它能三維立體顯示測(cè)量結(jié)果，反映真實(shí)輻射狀況。 適用范圍： 1.設(shè)計(jì)階段 把該設(shè)備運(yùn)用于設(shè)計(jì)階段，可以幫助你及早發(fā)現(xiàn)問題，及時(shí)采取有效措施消除或抑制系統(tǒng)內(nèi)部和對(duì)外的電磁干擾，降低熱輻射，確保產(chǎn)品取證EMC測(cè)試和環(huán)境測(cè)試（高低溫試驗(yàn)）的一次通過(guò)，從而加快產(chǎn)品的設(shè)計(jì)進(jìn)程，提高產(chǎn)品的設(shè)計(jì)質(zhì)量，節(jié)省產(chǎn)品開發(fā)費(fèi)用，減少產(chǎn)品的售后服務(wù)。 精確定位輻射源，查找被測(cè)對(duì)象輻射隱患。 精確分析頻譜成份，協(xié)助排除輻射源。 精確測(cè)試熱參數(shù)，排除熱輻射引起的不可靠性。 預(yù)掃描測(cè)試功能，自動(dòng)定位主要電磁輻射頻譜成份。 多次測(cè)量自動(dòng)比較，以找出最佳兼容狀況。 用于產(chǎn)品調(diào)試，隨時(shí)顯示調(diào)試效果，直觀方便。 用于產(chǎn)品可靠性檢查，排除電磁輻射和熱輻射隱患。 2.生產(chǎn)階段 該產(chǎn)品還可以用在生產(chǎn)階段，有時(shí)在生產(chǎn)中，出于降低成本的需要，可能需要更換某些器件或部件（如電源等），在更換時(shí)，除了電氣特性要一致以外，其電磁輻射和熱輻射也必須考慮。通過(guò)新部件與原部件的電磁輻射圖和熱輻射圖的對(duì)比，你可以決定能不能進(jìn)行更換。 3.品質(zhì)檢查階段 該產(chǎn)品運(yùn)用于品質(zhì)檢查階段，通過(guò)被檢產(chǎn)品與合格產(chǎn)品的電磁輻射圖和熱輻射圖的對(duì)比，保證出廠產(chǎn)品的質(zhì)量一致性。 該套系統(tǒng)還提供給您一個(gè)特別的FFE(遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試模型)功能,利用其遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量功能(FFE)，您可以通過(guò)近場(chǎng)測(cè)量得到其遠(yuǎn)場(chǎng)電磁場(chǎng)輻射狀態(tài)(5-10m)，并且將其結(jié)果與預(yù)先制定好的標(biāo) 準(zhǔn)(例如國(guó)標(biāo)或軍標(biāo))相比較，以進(jìn)行電磁場(chǎng)是否達(dá)到某項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試，使我們?cè)诋a(chǎn)品通過(guò)最后檢測(cè)前就能預(yù)先了解其情況。用戶可以設(shè)定自已的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)。 該套系統(tǒng)由以下幾部分組成：個(gè)人計(jì)算機(jī)、頻譜分析儀、近場(chǎng)探頭、掃描器平臺(tái)、掃描器與PC通信用的控制卡、計(jì)算機(jī)與頻譜分析儀進(jìn)行通信的GPIB卡、近場(chǎng)探頭、Dscan軟件及 Dview軟件。 該掃描器平臺(tái)是一個(gè)三維的運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)，它使您可以對(duì)真正工作狀態(tài)下的設(shè)備進(jìn)行電磁兼容性測(cè)試。它有三種型號(hào)可供您選擇： DS642------其最大測(cè)量范圍為600mm(L)×400mm(W)×00mm(H) 可同時(shí)測(cè)量電磁輻射及熱輻射狀態(tài)； DS644------其最大測(cè)量范圍為600mm(L)×400mm(W)×400mm(H) 可同時(shí)測(cè)量電磁兼容及熱輻射狀態(tài)； DS321-------其測(cè)量范圍為300mm(L)×200mm(W)×100mm(H) 可同時(shí)測(cè)量電磁兼容及熱輻射狀態(tài)； EMC-Scanner的優(yōu)點(diǎn) 可以對(duì)PCB板、電纜、元器件、整機(jī)進(jìn)行測(cè)量，此掃描器為三維運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)； 測(cè)量結(jié)果以文檔形式保存,可以二維或三維方式直觀地展示其電磁輻射及熱輻射狀況； 可看到元器件級(jí)的電磁輻射，降低了工程技術(shù)人員對(duì)高頻電磁場(chǎng)、電磁兼容及熱輻射方面經(jīng)驗(yàn)的要求； 自動(dòng)完成三維全方位的測(cè)量，節(jié)省了大量的時(shí)間； 通過(guò)對(duì)比測(cè)量，以文檔形式記錄設(shè)計(jì)改進(jìn)前后的電磁輻射效果，有利于設(shè)計(jì)的改進(jìn)； 在設(shè)計(jì)階段早期發(fā)現(xiàn)潛在的電磁輻射干擾問題，節(jié)省系統(tǒng)聯(lián)調(diào)時(shí)間； 對(duì)生產(chǎn)線產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)量，并與合格樣品進(jìn)行比較，確保產(chǎn)品合格率； 預(yù)掃描功能可以為您找到應(yīng)該關(guān)心的頻率； 沒有環(huán)境要求，不需要暗室； 系統(tǒng)沒有頻率限制；

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